SPC统计技术StatisticalProcessControl磁通品质部一、质量数据的基本知识计数值数据计数值数据是不能连续取值，只能以个数计算的数据。如不合格品数，缺陷数等2、总体和样本样本3、抽样及抽样方法常分为以下几种方法：一般随机抽样法：顺序抽样法分层抽样法（又称类型抽样法）整群抽样法（又称集团抽样法）4、几个重要的特征数中位数，用X表示样本方差标准偏差标准差σ（Sigma）5：为什么要应用SPC6：SPC技术原理特殊原因一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差来源。有时被称为可查明原因，存在它的信号是：存在超过控制线的点或存在在控制线之内的链或其他非随机性的情形。二、质量管理七大手法排列图：将质量改进项目从最重要到最次要进行排列而采用的一种简单图示技术。（见例图）例：频数表排列图不良率与累计不良率计算直方图：用一系列宽度相等，高度不等的矩形表示数据分布的图。直方图统计第一步收集数据（共100个数据）第二步：计算极差第四步：计算组边界和中心值第五步：制作频数表，必要时可以制作频率表第六步：按频数/频率画横坐标、纵坐标与直方图直方图分析直方图分析直方图图形直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析直方图分布状态与分析与公差界限比较分析直方图总结控制图：将一个过程定期收集的样本数据按顺序点绘成的一种图形技术，用于判断过程正常或异常的一种工具。（见例图）控制图的原理控制图的控制线公差界限与控制界限的区别两类错误两类错误计数型数据控制图n为每组检验的产品的数量；np为每组发现的不良品的数量。选择控制图的坐标刻度选择控制图的坐标刻度一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。将不合格品率描绘在控制图上a描点，连成线来发现异常图形和趋势。b在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响过程的异常情况。计算控制限计算过程平均不合格品率（P）P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/(n1+n2+…+nk)式中：n1p1；nkpk分别为每个子组内的不合格的数目n1；nk为每个子组的检验总数计算上下控制限（UCL；LCL）UCLp=P+3P(1–P)/nLCLp=P–3P(1–P)/nP为平均不良率；n为样本容量注：1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之变化。2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时，可用平均样本容量n代替n来计算控制限UCL；LCL。方法如下：A、确定可能超出其平均值±25%的样本容量范围。B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围的子组。C、按上式分别计算样本容量为n和n时的点的控制限.UCL,LCL=P±3P(1–P)/n=P±3p(1–p)/n画线并标注过程平均（P）为水平实线，控制限（UCL；LCL）为虚线。(初始研究时，这些被认为是试验控制限。）过程控制用控制图解释：分析数据点，找出不稳定的证据（一个受控的P管制图中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等）。超出控制限的点a超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：1、控制限计算错误或描点时描错。2、测量系统变化（如：不同的检验员或量具）。3、过程恶化。b低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种：1、控制限或描点时描错。2、测量系统已改变或过程性能已改进。链a出现高于均值的长链或上升链（7点），通常表明存在下列情况之一或两者。1、测量系统的改变（如新的检验人或新的量具2、过程性能已恶化b低于均值的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：1、过程性能已改进2、测量系统的改好注：当np很小时（5以下），出现低于P的链的可能性增加，因此有必要用长度为8点或更多的点的长链作为不合格品率降低的标志。明显的非随机图形a非随机图形例子：明显的趋势；周期性；子组内数据间有规律的关系等。b一般情况，各点与均值的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。c如果显著多余2/3以上的描点落在离均值很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：1、控制限计算错或描点描错2、过程或取样方法被分层，每个子组包含了从两个或多个不同平均性能的过程流的测量值（如：两条平行的生产线的混合的输出）。3、数据已经过编辑（明显偏离均值的值已被调换或删除）d如果显著少余2/3以上的描点落在离均值